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應(yīng)用

APPLICATION

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產(chǎn)品類(lèi)型

行業(yè)應(yīng)用

小尺度結(jié)構(gòu)研究必備—— 暗場(chǎng)散射光譜

概念解釋?zhuān)喊祱?chǎng)顯微(英文：Dark-field microscopy)或稱(chēng)暗視野顯微(英文：Dark ground microscopy)描述光學(xué)顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法，除去觀測(cè)物體以外的光線或電子進(jìn)入物鏡，使目鏡中觀測(cè)到的視野背景是黑的，只有物體的邊緣是亮的。利用這個(gè)方法能見(jiàn)到小至 4~200nm的微粒子，分辨率可比普通顯微法高50倍。
閃爍晶體熒光光譜測(cè)試

閃爍晶體到底是什么？可能很多人都沒(méi)聽(tīng)過(guò)這個(gè)詞，但其實(shí)，在我們的日常生活中并不陌生。閃爍體是一種當(dāng)被電離輻射激發(fā)之后會(huì)表現(xiàn)出發(fā)光特性的材料，是將高能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光的一種典型光電轉(zhuǎn)換材料，可用于輻射探測(cè)和安全防護(hù)，通常在應(yīng)用中將其加工成晶體，稱(chēng)為閃爍晶體。
硫化銦薄膜材料的拉曼光譜研究

硫化銦（In2S3 ）[1]是一種具有極高潛在利用價(jià)值的半導(dǎo)體材料，可作為CIGS薄膜太陽(yáng)能電池的緩沖層材料，并有望作為Cds緩沖層的替代材料，在光伏與光電器件上有很好的應(yīng)用前景。 In2S3在常溫常壓下比較穩(wěn)定，屬于立方晶系，具有四面體和八面體的空間結(jié)構(gòu)，并存在高密度的In空位。一般存在α、β、r 3種相，常溫下穩(wěn)定的為β 相。
冷CCD在微光顯微鏡(EMMI)的應(yīng)用

半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展，器件特征尺寸不斷下降，而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機(jī)理的分析帶來(lái)巨大的挑戰(zhàn)。對(duì)于半導(dǎo)體失效分析(FA)而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測(cè)能力，可偵測(cè)到半導(dǎo)體組件中電子－電洞對(duì)再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光線，能偵測(cè)到的波長(zhǎng)約在350nm ~ 1100nm 左右。它可以廣泛的應(yīng)用于偵測(cè)IC 中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，如： Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理圖如下:
聚光多結(jié)太陽(yáng)能電池測(cè)試

測(cè)試單位：北京卓立漢光儀器有限公司(Zolix Instrument Co., LTD) 測(cè)試對(duì)象：聚光多結(jié)太陽(yáng)能電池實(shí)驗(yàn)?zāi)康模憾嘟Y(jié)太陽(yáng)能電池的QE及IV特性測(cè)試